설계·EDA·IP스탠퍼드, 딥러닝으로 2D 트랜지스터 TCAD 파라미터 자동 추출
스탠퍼드대학교와 SLAC 국립가속기연구소 연구진이 전기적 측정값으로부터 2차원(2D) 트랜지스터의 이동도, 쇼트키 접촉 장벽 높이, 결함 프로파일 등 물리적 파라미터를 자동 추출하는 딥러닝 기법을 발표했다. 이 방법은 TCAD(기술 컴퓨터 지원 설계) 모델 피팅 작업을 자동화하는 것을 목표로 한다. 연구진은 물리 기반 소자 시뮬레이터를 근사하는 보조 신경망을 학습시켜 데이터 증강 및 사전학습을 구현했다. 해당 연구는 저널 Research에 2026년 8월 논문으로 게재됐다.
Semiconductor Engineering영문 원문