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코그넥스 In-Sight 1750, 웨이퍼 추적성 강화용 비전 솔루션
코그넥스가 반도체 웨이퍼 및 패널 식별을 위한 차세대 시스템 'In-Sight 1750 Series'를 출시했다고 발표했다. 이 제품은 AI 기술과 첨단 이미징, 전용 조명을 결합해 판독이 어려운 웨이퍼·패널 마킹을 안정적으로 인식하도록 설계됐다. 회사는 이를 통해 제조업체의 추적성 개선과 생산 중단 감소를 지원한다고 밝혔다. 기존 In-Sight 1740 사용자를 고려해 작업 변환과 업그레이드가 가능하도록 설계됐으며, 웹 기반 설정 환경과 판독 로그 기능도 제공한다.
VeriThreader, 검증 증거를 하나의 스레드로 추적성 확보
Semiconductor Engineering에 따르면 제품이 소프트웨어 중심·커넥티드·자율주행·안전critical화되면서 검증 범위가 빠르게 확대되고 있다. 기존 방식은 도구·조직·인수인계 지점별로 검증 활동이 단절돼 있어 가시성이 떨어지고 영향 분석이 복잡해지며 추적성이 약화된다는 문제가 지적된다. Questa One VeriThreader는 'Verification Capture Points(VCP)'라는 구조화된 커버리지 아티팩트를 통해 파라미터화된 요구사항과 검증 결과, 모델, 컨텍스트, 구성을 연결하는 디지털 검증 스레드를 구현한다. 이를 통해 여러 도메인과 추상화 수준에 걸친 검증 활동을 공통 형식으로 포착해 측정 가능한 검증 커버리지 확보, 교차 도메인 추적성 개선, 공식 감사 요건 지원, 변경 영향 파악을 지원한다고 설명했다.