설계·EDA·IP지멘스 EDA, Tessent 테스트 데이터 전송 표준 진단
Semiconductor Engineering이 지멘스 EDA의 테스트 데이터 전송 관련 인터뷰를 보도했다. 복잡한 칩 설계는 노후 공정이나 단일 평면 다이 기반 설계보다 더 많은 테스트 데이터를 요구하며, 이를 테스트 속도 저하 없이 시스템 내로 옮기는 것이 과제로 지적됐다. 지멘스 EDA Tessent 사업부의 DFT 제품관리 디렉터 Vidya Neerkundar는 다양한 테스트 옵션과 각각의 적합한 활용처, 관련 표준이 테스트 공정에 미치는 영향을 설명했다.
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