설계·EDA·IP시놉시스 TestMAX, 칩렛 SoC 스캔 압축·RTL 시프트 레프트 지원
Semiconductor Engineering은 AI 가속기와 HPC 프로세서가 대규모 스캔 플립플롭, 칩렛 통합, 높은 테스트 커버리지 요구로 기존 DFT 방식의 한계에 직면했다고 전했다. 시놉시스는 DFTMAX SEQ 기반 TestMAX Unified Compression과 프로그래머블 고대역폭 테스트 데이터 전달망인 Streaming Fabric을 결합해 이를 해결한다고 소개했다. Unified Compression은 제조·번인·시스템레벨·필드 테스트 전반에서 재사용 가능한 압축 아키텍처를 제공하며, Streaming Fabric은 스캔 트래픽을 패킷화해 계층적 대형 설계 전반에 전달한다. 또한 TestMAX Manager를 통해 RTL 단계에서 테스트 구조를 설계하는 '시프트 레프트' 방법론도 제시됐다.
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