proteanTecs, AI 다이 검사로 워크로드 기반 양불 판정

Semiconductor Engineering은 첨단 설계 대부분이 멀티다이 조립 방식이어서 다이 하나의 결함이 전체 제품을 못 쓰게 만들 수 있다고 전했다. proteanTecs의 니르 세버 사업개발 담당 수석이사는 결함 판정을 받은 다이가 모두 폐기 대상은 아니며, 검사를 통과한 다이도 시간이 지나면 현장에서 예상과 다르게 동작할 수 있다고 설명했다. 그는 스펙 기준의 경직된 합격·불합격 판정 대신, 복잡한 시스템에서 실제 워크로드 하에서의 동작을 기준으로 유용성을 평가하는 머신러닝 모델 훈련 방법을 소개했다.
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