반도체 수율램프 가속, ATE 진단으로 결함 조기 특정

글로벌 반도체 업계에서 목표 수율에 최대한 빨리 도달하는 것은 제품 성공의 선행 지표이며, 수율 도달이 지연되면 출시 시기, 제조 비용, 경쟁력에 악영향을 미친다고 설명한다. 이를 해결하기 위해 분석 기반의 볼륨 진단 및 실패분석 역량이 필요하며, 자동테스트장비(ATE)에서 포착된 테스트 실패를 역설계해 칩 내 정확한 결함 위치를 찾아내고 수율 영향도에 따라 후보를 우선순위화한다고 소개한다. 우선순위가 높은 후보는 실패분석 랩으로 전달돼 최종 근본원인 확인을 거치며, 이후 설계 또는 실리콘 공정에 대한 수정 조치로 수율을 개선해 양산 진입을 앞당길 수 있다고 설명한다.
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이 글은 원문을 요약한 큐레이션입니다. 제목은 요약에 맞춰 새로 붙였습니다. 수치와 단위는 원문 표기를 유지했습니다. 전체 내용은 원 매체에서 읽어 주세요.원문: Semiconductor Engineering 「Accelerate Yield Ramp with Closed-Loop Yield Learning」
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