DFF 도입, 칩렛 패키지 테스트 데이터 공급망 전반 연계

이 발표는 모놀리식 다이에서 칩렛 기반 패키징으로 전환하면서 테스트 복잡도가 커지는 문제를 다룬다. 이를 위해 공급망 전반에서 테스트 데이터를 수집·변환·전송·적용하는 'Data Feed Forward(DFF)' 인프라를 제시했다. DFF는 초기 생산 단계에서 생성된 테스트 데이터를 지리적으로 떨어진 후속 테스트 공정에서도 활용할 수 있게 하며, 테스트 커버리지 최적화와 예측된 양품의 번인 생략, 트림 목표 예측을 통한 미스트림 방지, 파라미터 드리프트 감지 등의 효과를 제시한다. 핵심 요소로 실시간 테스트 공정을 수집·관리하는 Exensio Test Operations와 테스트용 모델 생애주기 관리를 지원하는 Exensio StudioAI(ModelOps for Test)가 소개됐다.
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이 글은 원문을 요약한 큐레이션입니다. 제목은 요약에 맞춰 새로 붙였습니다. 수치와 단위는 원문 표기를 유지했습니다. 전체 내용은 원 매체에서 읽어 주세요.원문: Semiconductor Engineering 「AI-Driven Data Feed Forward: Scaling Advanced Test Methodologies For Chiplet-Based Packages」
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