RTL 단계 DFT 시프트 레프트, 재설계 지연 줄인다

Semiconductor Engineering이 소개한 백서는 RTL 설계 단계에서 테스트 용이성 문제를 조기에 파악하는 '시프트 레프트' 전략을 다룬다. RTL 단계에서 DFT 위반사항을 식별해 스캔 준비를 앞당기고, ATPG 커버리지를 조기에 추정하는 방법을 제시한다. 또한 합성 전 클록 도메인 글리치와 테스트 강건성 문제를 탐지하고, 검출이 어려운 결함 분석을 통해 테스트 포인트를 최적화하는 방법, SoC 계층 전반의 DFT 연결성을 검증하는 구조적 점검 방법을 소개한다.
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이 글은 원문을 요약한 큐레이션입니다. 제목은 요약에 맞춰 새로 붙였습니다. 수치와 단위는 원문 표기를 유지했습니다. 전체 내용은 원 매체에서 읽어 주세요.원문: Semiconductor Engineering 「Accelerating Shift Left With Early RTL DFT Analysis And Connectivity Verification」
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