KRISS 박연규 CIPM 위원 선출 — 반도체 측정표준 역할 강화

한국표준과학연구원(KRISS) 박연규 부원장이 제28차 국제도량형총회(CGPM)에서 국제도량형위원회(CIPM) 위원으로 선출됐다. 그는 AI가 측정 과정의 잡음과 오차 요인을 분석하고 측정 효율을 높이는 혁신 도구가 될 것이라면서도, AI 측정 결과의 정확성과 불확도를 과학적으로 검증하는 체계가 필수적이라고 강조했다. 반도체 산업이 옹스트롬 수준의 초미세 공정과 3차원 적층 기술로 발전하면서 원자층 수준 두께 측정, 적층 패키징 결함 비파괴 검사 등 초정밀 측정기술의 중요성이 커지고 있다고 설명했다. 아울러 디지털 교정성적서(DCC) 등 기계와 AI가 직접 판독할 수 있는 디지털 측정표준 체계 구축과 양자기술 측정 신뢰성 확보에도 기여하겠다고 밝혔다.

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