SiP 확산에 웨이퍼 소트 딥 인다이 검증 부상

시스템인패키지(SiP)가 클라우드·통신·모바일·자동차·HPC 전반에서 에이전틱 AI와 피지컬 AI를 뒷받침하면서, 인터포저·첨단기판·TSV·다이스태킹·HBM 등 첨단 패키징 기술의 중요성이 커지고 있다. 칩렛들이 하나의 패키지로 통합되면 전력 전달, 열, 기계적 상호작용이 개별 다이 단위로는 파악할 수 없는 시스템 차원의 문제로 바뀐다. 조립 후에는 프로빙과 결함 위치 파악이 어려워져 문제의 원인이 칩렛, 인터페이스, 패키지 중 어디에 있는지 가려내기 힘들다. 이에 웨이퍼 소트 단계에서 딥 인다이 측정과 텔레메트리 기반 분석으로 마진 문제를 미리 파악하는 '시프트 레프트' 접근이 제시된다.
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이 글은 원문을 요약한 큐레이션입니다. 제목은 요약에 맞춰 새로 붙였습니다. 수치와 단위는 원문 표기를 유지했습니다. 전체 내용은 원 매체에서 읽어 주세요.원문: Semiconductor Engineering 「Advanced Packaging Changes The Rules For Semiconductor Health And Performance Management」
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