침묵 데이터 오류, 초기 테스트 통과 후 발생 — 시스템레벨 검증 확대

반도체 업계가 기존 구조적 결함 검사(ATPG, 스턱앳 테스트 등)를 통과하고도 잘못된 연산 결과를 내는 '침묵 데이터 오류(SDE)'에 대응해 테스트 전략을 재정비하고 있다. 구글과 메타의 초기 분석에 따르면 서버 1000대 중 1대꼴로 SDE가 발생하며, 이는 100~1000 DPPM 수준의 결함률에 해당한다. Advantest, Siemens EDA, NXP, proteanTecs 관계자들은 미세화된 공정과 게이트올어라운드·나노시트 트랜지스터 도입으로 미세 결함 노출이 커졌다며, 웨이퍼 소트와 최종 테스트를 넘어 시스템 레벨·미션모드·워크로드 인지 테스트로 확대해야 한다고 말했다. 이들은 SDE의 약 80%가 초기(time-0) 테스트에서 걸러지지 않은 결함에서 비롯된다고 설명했다.

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