AI가속기 1kW 시대, 반도체 테스트에 열폭주 감지 요구

AI 가속기가 1kW급 전력을 사용하면서 반도체 검증 방식이 근본적으로 바뀌고 있다는 지적이 나왔다. Nordson Test & Inspection, Advantest, Synopsys 관계자들은 동일한 전력 수치라도 워크로드에 따라 발열 위치와 강도가 달라지므로 결함 검출뿐 아니라 열 분포, 타이밍, 시간에 따른 변화까지 함께 살펴야 한다고 설명했다. 특히 Advantest의 Brent Bullock은 패키지 테스트 단계에서 칩이 수백 마이크로초 만에 열폭주에 빠질 수 있어 빠른 감지와 차단이 필요하다고 밝혔다. Synopsys의 Lang Lin은 칩 전체의 최악 전력값보다 다이 내 실제 전력 분포를 파악하는 것이 중요하다고 강조했다.

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