CPO·NPO 광학소자 테스트, 설계 표준 부재로 양산 난항

반도체 테스트 업계 전문가들은 데이터센터용 코패키지드 옵틱스(CPO)와 니어패키지드 옵틱스(NPO) 테스트가 전자소자 테스트 초기 단계와 비슷한 난제에 직면했다고 밝혔다. 테라다인·어드반테스트·ISE Labs·키사이트 관계자들은 광학소자에는 아직 디자인포테스트(DFT)가 없어 웨이브가이드, 레조네이터, 포토다이오드 등을 개별적으로 테스트해야 한다고 설명했다. 이는 비효율적이며 대량 생산 규모로 확장하기 어렵다는 지적이다. 광학소자는 전자소자보다 미세한 위치 오차에 훨씬 민감해 열이나 휨에 따른 정렬 문제가 특히 까다롭다고 전문가들은 말했다. 업계는 커넥터 설계와 레이저 광원 종류도 아직 확정하지 못한 상태에서 양산용 테스트 장비를 개발하고 있다.

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